扫描电子显微镜SEM分析

扫描电子显微镜SEM分析原理：用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象。
谱图的表示方法：背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等。
提供的信息：断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等。

扫描电子显微镜SEM应用范围：

1、材料表面形貌分析，微区形貌观察

2、各种材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析

3、各种薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析

扫描电子显微镜样品制备比透射电镜样品制备简单，场发射扫描电镜厂家，不需要包埋和切片。

使用强磁透镜，这是在透射电镜中装上附加的扫描附件

使用强磁透镜，这是在透射电镜中装上附加的扫描附件，场发射扫描电镜型号，使试样发出的二次电子在强磁场中被检测、收集成像，即利用透射电镜的扫描附件做出扫描电镜才能完成的二次电子像，场发射扫描电镜多少钱一台，而且这种二次电子像的分辨力往往优于同类电子枪的扫描电镜。

理想膜层的特点：

①良好的导热和导电性能。

②在3-4nm分辨率尺度内不显示其几何形貌特点，避免引入不必要的人为图像。

③不管样品的表面形貌如何，覆盖在所有部位的膜层需要薄厚均匀。

④膜层对样品明显的化学成分有干扰，也不显著的改变从样品中发射的X射线强度。
这层膜主要增加样品表面的导电性能和导热性能，导电金属膜层的厚度普遍电位在1-10nm。

扫描电镜是一种高精度高分辨率的台式设备，在很多领域都被应用到，河南场发射扫描电镜，从样品的表面形貌可以获得多种数据，并通过信号处理方法，可以获得各种图像、特殊的显示方法，高分辨率的台式扫描电镜不仅可以观察表面形貌，而且可以分析元件和成分，并通过电子通道模式进行结晶学分析。
选定的面积可以是10米至3米。

利用样品电流，根据平均原子数的对比，产生的化学成分相的分布图像与背面散射电子图像的暗与暗图像相反。
利用俄歇电子定性分析了化学元素在1nm 表面的分布。

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